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型號:
JKZC-DCHH系列高低溫真空探針臺

描述:JKZC-DCHH系列高低溫真空探針臺是我司自主研發(fā)的一款在環(huán)境下給樣品加載電學信號的設備??梢詫崿F(xiàn) 器件及材料表征的IV/CV特性測試,射頻測試,光電測試等。通過液氮或者壓縮機制冷,可以在防輻射屏內(nèi)營造一個穩(wěn)定的測試環(huán)境。在特殊材料,半導體器件等研究方向具有廣泛運用。

  • 廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)廠家
  • 更新時間

    2024-11-06
  • 訪問量

    1013
詳細介紹
品牌其他品牌產(chǎn)地類別國產(chǎn)
應用領域能源,電子,汽車,電氣,綜合

JKZC-DCHH列高低溫真空探針臺

產(chǎn)品概要

JKZC-DCHH系列高低溫真空探針臺是我司自主研發(fā)的一款在環(huán)境下給樣品加載電學信號的設備??梢詫崿F(xiàn) 器件及材料表征的IV/CV特性測試,射頻測試,光電測試等。通過液氮或者壓縮機制冷,可以在防輻射屏內(nèi)營造一個穩(wěn)定的測試環(huán)境。在特殊材料,半導體器件等研究方向具有廣泛運用。

極低溫測試:因為晶圓在低溫大氣環(huán)境測試時,空氣中的水汽會凝結在晶圓上,會導致漏電過大或者探針無法接觸電極而使測試失敗。避免這些需要把真空腔內(nèi)的水汽在測試前用泵抽走,并且保持整個測試過程 泵的運轉(zhuǎn)。

高溫無氧化測試:當晶圓加熱至300°C,400°C,500°C甚至更高溫度時,氧化現(xiàn)象會越來越明顯,并且溫度越 高氧化越嚴重。過度氧化會導致晶圓電性誤差,物理和機械形變。避免這些需要把真空腔內(nèi)的氧氣在測試前用泵抽走,并且保持整個測試過程泵的運轉(zhuǎn)。

技術特點

-防輻射屏和熱沉設計;

•降溫速度快,常溫降至77k<25mins,大大提高測試效率;

•液氮自動控制系統(tǒng),液氮流量模塊和溫度控制模塊一起聯(lián)動共同控制溫度。

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詳細參數(shù)

產(chǎn)品類型

低溫開循環(huán)

低溫閉循環(huán)

主體材料

航空鋁

航空鋁

型號

JKZC-JKZC-DCHH-196k

JKZC-JKZC-DCHH4k

外形

850*850*600mm

900*850*600mm

重?

100kg

150kg

電力需求

AC220V,50?60HZ

AC380V,50~60HZ

腔體

腔體尺寸

8英寸,帶4英寸高紅外透射率觀察窗

樣品臺尺寸

2英寸/4英寸(鍍金)

2英寸(鍍金)

樣品固定方式

真空導熱硅脂/彈簧壓片

真空度

10A-5pa最高真空

接口形式

電信接口,真空接口,光纖接口,冷源接口等

其它

帶防輻射屏和熱沉設計

溫控系統(tǒng)

制冷方式

液氮

壓縮機

溫控范圍

77K-473K (973k可選)

4.2K~450K

溫控精度和穩(wěn)定性

0丄度/±0丄度

降溫速度

常溫降到77k優(yōu)于25mins

常溫降到:10k優(yōu)于180mins

控制方式

液氮自動流量控制

壓縮機控制

光學系統(tǒng)

顯微鏡類型

體式顯微鏡/視頻顯微鏡/金相顯微鏡+CCD成像系統(tǒng)

體式/單筒顯微鏡+CCD成像系統(tǒng)

倍率范圍

16X~200X/40X~280X/20X ?2000X

16X-200X/40X-280X

移動范圍

水平360度旋轉(zhuǎn),Z50.8mm調(diào)焦,帶萬向支架

真空腔觀察窗尺寸

4inch

4inch

CCD像素

2k或者4K相機,幀率60fps,帶拍照/錄像/測量功能等功能

探針臂

探針臂數(shù)?

最多6

X¥Z行程

50mm-25mm-25mm

點針精度

10微米/2微米

漏電精度

同軸夾具10pA/三軸夾具100 fA

接口形式

三軸/SMA/K/光纖接口


頻率范圍

JKZC-DCH-67G

探針

探針直接

lum~100um 可選

材質(zhì)

磚鋼,披銅

真空系統(tǒng)

機械泵/分子泵組/離子泵

可選附件

防震桌,鍍金卡盤,氣敏測試組件等

應用方向

高低溫真空環(huán)境下的芯片測試,材料測試,霍爾測試,電磁輸運特性等



搭配產(chǎn)品/半導體參數(shù)分析儀

我們經(jīng)過近10年的發(fā)展,在測試儀器與探針臺的搭配方面具備十分 豐富的經(jīng)驗。半導體參數(shù)分析儀方面,我們和是德科技(Keysight)、泰克(Tektronix)、概倫電子(PRIMARIUS)等公司的半導體參數(shù)分析儀有過多次搭配經(jīng)驗,系列型號有Keysight B1500A、Keith ley 4200A-SCS、PRIMARIUS FS-Pro等,并為用戶提供半導體參數(shù)分析 儀與探針臺集成測試方案和服務。

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 搭配產(chǎn)品/矢量網(wǎng)絡分析儀

依靠與儀器設備廠商和設備集成經(jīng)銷商所保持良好的合作關系,我司可為用戶提供是德科技(Keysight)、中電思儀(Ceyear)等公司的網(wǎng)絡分析儀和模塊,有Keysight E5063A/E5072A/E5061B/E5080B ENA、Keysight(N522x/3x/4xB) PNA、Keysight N5290A/ N5291A、Ceyear 3762A/B/C-S、Ceyear 3671C/D/E等,各系列型號的矢量網(wǎng)絡 分析儀和毫米波網(wǎng)絡分析儀,涵蓋不同測量頻率范圍、性能和功能,并 為用戶提供網(wǎng)絡分析儀與探針臺集成測試方案和服務,具備豐富的測 試經(jīng)驗。

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搭配產(chǎn)品/其他類型源表

在其它類型源表方面,比如tek2450,tek2600,keysight2900,普賽斯S300,鐵電分析儀,各類示波器,各類電源,頻譜儀等等都有多年的搭配經(jīng)驗。

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