廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家更新時(shí)間
2024-11-06訪問量
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致力于成為更好的解決方案供應(yīng)商!
品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,電氣,綜合 |
非標(biāo)探針臺(tái)
I (1)微型探針臺(tái)
•整機(jī)外形尺寸:約380mmL*300mmW*320mm H,重量:約10 kg;
•雙探針座平臺(tái)鍍鏢設(shè)計(jì),提高了針座平臺(tái)和針座之間的吸附力;
• ChJKZC-UCk XY微分頭設(shè)計(jì),行程25mm*25mm,精度2um;
• ChJKZC-UCk大小:2英寸,中心吸附孔和多圈吸附環(huán)固定樣品,均獨(dú)立控制;
•卡盤電學(xué)獨(dú)立懸空,帶4mm香蕉頭插口,可以作為背電極使用;
-臺(tái)體底板帶高性能防震海綿,可一定程度減小外界震動(dòng)對(duì)測(cè)試的干擾;
•整機(jī)人體工程學(xué)設(shè)計(jì),操作簡單,使用便捷。
| (2)倒裝手動(dòng)測(cè)試夾具
-可給樣品加載DC或者RF信號(hào);
•樣品可在0~180度任意角度內(nèi)進(jìn)行旋轉(zhuǎn)并固定;
-具備微調(diào)功能,精度0.1度;
•玻璃樣品載臺(tái),高透光性;
•可無磁化設(shè)計(jì),在光學(xué),電磁等環(huán)境中運(yùn)用較為廣。
| (3)光電流測(cè)試顯微鏡
-可在原有光路基礎(chǔ)上可以導(dǎo)入另一路光源,用于輻照樣品以測(cè)試樣品在特定波長及能量下電學(xué)性能;
-顯微鏡設(shè)計(jì)為雙光路或3光路,其中一路為導(dǎo)入光通路,另一到兩路為成像光路導(dǎo)入光為平行的激光或其它線性光源 ,波長范圍200nm~20000nm,中間可加入多個(gè)波片過濾,起偏及偏振角度無級(jí)360度調(diào)節(jié)。光斑輻照直徑有650nm紅光 指示。所有模塊均可拉出設(shè)計(jì),對(duì)導(dǎo)入光性質(zhì)無影響;
-導(dǎo)入光光路可選擇光時(shí)間開關(guān),精確控制導(dǎo)入光的輻照時(shí)間,精度1ms,范圍2ms~oo,在控制界面上可對(duì)各種參數(shù)進(jìn) 行詳細(xì)設(shè)置,成像光路為同軸照明金相成像,其中一路為1倍成像,可選擇第2路成像,為物鏡的0.25-10倍率,通常在高 低溫測(cè)試系統(tǒng)里會(huì)用到,同一個(gè)物鏡不切換,得到兩個(gè)不同視野的成像。
(4)TEC制冷卡盤
•釆用TEC制冷,無需液氮,使用方便;
可給樣品提供不同溫度環(huán)境;
-樣品臺(tái)大小可選,防干擾設(shè)計(jì),具備良好的接地性能;
•溫度范圍:負(fù)45°C~150°C,溫度分辨率:0.1°C,
溫度穩(wěn)定性:土 0.3°C;
•樣品臺(tái)微調(diào)升降,行程0-10mm,精度10um.
(5)磁場(chǎng)探針臺(tái)(無磁設(shè)計(jì))
•在探針臺(tái)的基礎(chǔ)上,可加載三維磁場(chǎng),多維磁場(chǎng),磁場(chǎng)強(qiáng)度,精度和間隙均可調(diào)整;
-高剛性結(jié)構(gòu),所有零配件均采用無磁化材料;
-可加載高低溫,可同時(shí)進(jìn)行DC和RF測(cè)試;
可以旋轉(zhuǎn),科客制化。
|⑹110g以上高頻測(cè)試探針臺(tái)
-可配合市場(chǎng)主流擴(kuò)頻模塊進(jìn)行超高頻測(cè)試;
•大行程高精度探針座,X-Y-Z-Theta四軸控制;
-顯微鏡可以在2英寸*2英寸*2英寸范圍內(nèi)移動(dòng),擴(kuò)大了顯微鏡視場(chǎng);
-兼容直流與高頻信號(hào);
-可以定制,可升級(jí)性強(qiáng);
-最大可以測(cè)試12英寸樣品,探針臺(tái)chJKZC-UCk具備升降功能,便于樣品和 探針的快速分離。
(7)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
-自動(dòng)探針測(cè)試系統(tǒng),可以與半?yún)?,網(wǎng)分聯(lián)動(dòng);
-電動(dòng)二維平臺(tái),可手動(dòng)和電動(dòng)操作;
• ChJKZC-UCk XY軸運(yùn)動(dòng)行程100*100mm,復(fù)定位精度<±lum;
• X-Y軸驅(qū)動(dòng):電機(jī)+絲桿+光柵尺;
-探針/光纖探針XYZ軸電動(dòng)模塊30*30*30mm,復(fù)定位精度W ±lum;
-X-Y-Z軸驅(qū)動(dòng):電機(jī)+絲桿+光柵尺。
| (8)可升降平臺(tái)
產(chǎn)品型號(hào):T-station
產(chǎn)品參數(shù):
-尺寸和重量定制;
-單個(gè)探針座平臺(tái)最多可同時(shí)放置3個(gè)探針座;
-探針座平臺(tái)表面鍍鏢,增大與探針座之間的吸附力;
-隱匿螺紋固定于標(biāo)準(zhǔn)蜂窩板,美觀,并且方便拆卸;
-平臺(tái)可升降,升降高度和精度可定制;
-可配合光電流顯微鏡使用。
| (9)高精度納米探針座
產(chǎn)品型號(hào):JKZC-DCH-20nm
產(chǎn)品參數(shù):
-X軸分辨率:20nm,行程30um (旋鈕控制盒);
-YZ軸分辨率:10um,行程+-6.5mm;
-釆用高精度壓電陶瓷設(shè)計(jì),可以固定步距撥動(dòng)樣品或者納米線。
(10)毫米級(jí)手持式探針夾具
產(chǎn)品型號(hào):JKZC-DCH
產(chǎn)品參數(shù)
•整體尺寸:20*20*180mm;
-萬向調(diào)節(jié)旋鈕,方向可調(diào),松緊可調(diào);
磁吸底座,直徑20mm;
•兼容彈簧針和晶圓針;
-Cable接頭可定制三軸,同軸或者其它。
(11) FA失效分析探針臺(tái)
產(chǎn)品型號(hào):FA
產(chǎn)品參數(shù)
•探針臺(tái)系統(tǒng)可以選用:4~12英寸JKZC-DN系列探針臺(tái)。
•激光系統(tǒng)可以選用美國ESI三波段激光器或者法國 quantel激光器
•美國ESI (NEWWAVE)激光器參數(shù)
鐳射波長1064和532nm和355nm
輸出功率2.2mJ/pulse
擊打頻率lHz~50Hz
可加工的材質(zhì):Copper/Gold/Poly Silicon/Alu minum/Silicon Dixoide等
最小加工尺寸1微米(使用100X物鏡)
最大加工尺寸40微米(使用50X物鏡)