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2024-10-28
+JK-150BPE型半導(dǎo)體冷熱臺又稱帕爾貼冷熱臺,利用半導(dǎo)體的熱-電效應(yīng)制冷,配合循環(huán)水散熱,在 -30~150℃的溫度范圍內(nèi)進行控溫,實現(xiàn)樣品在開放式 / 氣密 / 真空環(huán)境下的變溫光學(xué)、電學(xué)等測試。
半導(dǎo)體冷熱臺JK-120BCH采用半導(dǎo)體致冷,配合低溫循環(huán)液,實現(xiàn)從-40到180℃(選型)的控溫。 結(jié)構(gòu)緊湊,適用于各種變溫測試 氣密腔室設(shè)計,可通保護氣體 多探針測試 上位機軟件控制 支持改動或定制
半導(dǎo)體冷熱臺JK-120BPE、BPE100采用半導(dǎo)體冷熱控制,配合循環(huán)水散熱,實現(xiàn)從-25~120℃(選型)的控溫。無需液氮等致冷劑,具有無噪聲、無振動等特點??梢詫崿F(xiàn)變溫光學(xué)測試,或者選配探針實現(xiàn)變溫電學(xué)測試。
探針冷熱臺JK-600C是一款針對研究樣品變溫電學(xué)性能測試而設(shè)計的產(chǎn)品,可表征樣品電學(xué)性能隨溫度變化的特征。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式,實現(xiàn)-190~600℃范圍內(nèi)精準控制,與其他電學(xué)儀表(如電橋、源表、萬用表等)搭配集成,進行變溫原位測試。
探針熱臺JK-600S是一款針對研究樣品變溫電學(xué)性能測試而設(shè)計的產(chǎn)品,可表征樣品電學(xué)性能隨溫度變化的特征。產(chǎn)品采用電阻加熱的方式,實現(xiàn)RT~600℃范圍內(nèi)精準控制,與其他電學(xué)儀表(如電橋、源表、萬用表等)搭配集成,進行變溫原位測試。產(chǎn)品需要與溫度控制器配套使用,配套的上位機溫控軟件方便進行溫度設(shè)置及采集,提供的Labview Vis/C# SDK方便客戶進行定制化編程。
JKZC-UTS150微型冷熱腔是一種適配μTS拉伸臺的產(chǎn)品,包含拉伸、壓縮、三點彎模塊。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式,實現(xiàn)-100~50℃ (高溫以實際數(shù)據(jù)為準)溫度下材料的動態(tài)應(yīng)力應(yīng)變特性測試。