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GWST-1000型高溫四探針綜合測試系統(tǒng)（包含薄膜，塊體功能）是為了更方便的研究在高溫條件下的半導(dǎo)體的導(dǎo)電性能，該系統(tǒng)可以*實現(xiàn)在高溫、真空及惰性氣氛條件下測量硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率和外延層、擴散層和離子層的方塊電阻及測量其他方塊電阻。

HTRS-1000型高溫半導(dǎo)體材料電阻率測試儀主要用于半導(dǎo)體材料導(dǎo)電性能的評估和測試，該系統(tǒng)采用四線電阻法測量原理進行設(shè)計開發(fā)，可以在高溫、真空氣氛的條件下測量半導(dǎo)體材料電阻和電阻率，可以分析被測樣品電阻和電阻率隨溫度、時間變化的曲線。目前主要針對圓片、方塊、長條等測試樣品進行測試，可以廣泛用于半導(dǎo)體材料硅（si）、鍺（ge）,化合物半導(dǎo)體材料砷化鎵（GaAs）、銻化銦（InSb），三元化合物半導(dǎo)

HTIM-1000高溫絕緣材料電阻率測試儀/GB-T10581-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率主要用于評估測量絕緣材料電學(xué)性能，該系統(tǒng)采用三環(huán)電極法設(shè)計原理并結(jié)合GB-T 10581-2006 絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗方法標(biāo)準設(shè)計開發(fā)，可以直接測量高溫、真空、氣氛條件下樣品的電阻和體電阻率、漏電流等隨溫度、時間變化的曲線，高溫絕緣材料電阻率測試儀系統(tǒng)已經(jīng)在航天航空傳感器領(lǐng)域得到很好的

PRPM-1000熱釋電系數(shù)高溫測試系統(tǒng) 關(guān)鍵詞：熱釋電，激光，紅外 熱釋電材料目前主要用于紅外、激光等熱釋電探測領(lǐng)域,也廣泛地使用在各類輻射計,光譜儀,以及紅外、激光探測器等方面。而熱釋電系數(shù)是測定紅外探測器工作特性的主要參數(shù)之一。PRPM-1000熱釋電系數(shù)高溫測試系統(tǒng)采用高精度進口的設(shè)備采集分析數(shù)據(jù)，對熱釋電系數(shù)能夠準確的測試.