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TFRT-300型薄膜變溫電阻測(cè)試儀是一款多用途的電阻測(cè)試儀,即可應(yīng)用于金屬、半導(dǎo)體、導(dǎo)電高分子薄膜(或塊材)電阻率和磁阻的測(cè)量,也可以應(yīng)用于鐵磁/非鐵磁/鐵磁三層或多層薄膜的磁電阻測(cè)量,是研究薄膜材料電阻和磁阻變化特性的重要儀器,對(duì)于先進(jìn)材料應(yīng)用和開發(fā)有著重要意義。
HTIM-1001A高溫電阻測(cè)試儀采用四端測(cè)量方法在高溫環(huán)境下對(duì)導(dǎo)電及半導(dǎo)電材料的電阻進(jìn)行評(píng)估,適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫、真空及氣氛條件下測(cè)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料,液晶顯示,無需人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能。
HTIM-1000A高溫電阻測(cè)試儀采用四端測(cè)量方法在高溫環(huán)境下對(duì)導(dǎo)電及半導(dǎo)電材料的電阻進(jìn)行評(píng)估,適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫、真空及氣氛條件下測(cè)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示,無需人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能。采用芯片控 AD制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,配備 英寸觸摸屏, 10軟件可保存和打印數(shù)據(jù),自動(dòng)生成