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GWZK-03A高溫精密壓電阻抗分析測(cè)量系統(tǒng)是國(guó)內(nèi)符合LXI標(biāo)準(zhǔn)的新一代高溫壓電阻抗測(cè)試儀器，其0.1%的基本精度、20Hz～5MHz的頻率范圍可以滿足元件與材料絕大部分低壓參數(shù)的測(cè)量要求，可廣泛應(yīng)用于諸如傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變?nèi)荻O管、變壓器等進(jìn)行諸多電氣性能的分析及低ESR電容器和高Q電感器的測(cè)量。

TSDC/TSC--400 型熱激勵(lì)去極化電流測(cè)量系統(tǒng)（thermally stimulated depolarization currents, 簡(jiǎn)寫(xiě)為TSDC或TSC）是電介質(zhì)材料在受熱過(guò)程中建立極化態(tài)或解除極化態(tài)時(shí)所產(chǎn)生的短路電流?；痉椒ㄊ菍⒃嚇訆A在兩電極之間，加熱到一定溫度使樣品中的載流子激發(fā)，然后施加一個(gè)直流的極化電壓，經(jīng)過(guò)一段時(shí)間使樣品充分極化，以便載流子向電極漂移或偶極子充分取向，

YDB-03型非接觸式表面電壓測(cè)量?jī)x是一款應(yīng)用于壓電陶瓷，壓電薄膜等極化后，采用非接觸方式測(cè)量其表面的電壓，電流等功能的實(shí)驗(yàn)裝置，同時(shí)測(cè)量絕緣體、半導(dǎo)體或?qū)w表面電位測(cè)量，可以配合軟件進(jìn)行曲線成圖分析，是在目前材料表面電壓測(cè)量中是重要的科研設(shè)備。

GWJDN-800型四通道高低溫介電測(cè)量系統(tǒng)應(yīng)用于高溫環(huán)境下材料、器件的導(dǎo)電、介電特性測(cè)量與分析，通過(guò)配置不同的測(cè)試設(shè)備，完成不同參數(shù)的測(cè)試。是一代高溫介電測(cè)試系統(tǒng)，性能*，*科研級(jí)別的精密測(cè)試裝置，是國(guó)家科研院所和高等學(xué)府的設(shè)備。

ZJ-3型壓電薄膜測(cè)試儀是一款即可測(cè)量薄膜材料的D33系數(shù)，也可以測(cè)量塊體材料的靜壓電D33系數(shù)，該設(shè)備測(cè)試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確，性能穩(wěn)定，不僅是可以用科學(xué)研究，還可以用于壓電材料的生產(chǎn)，目前在國(guó)內(nèi)外廣泛使用.

目前常規(guī)的方法是通過(guò)電滯回線計(jì)算高壓下電介質(zhì)的能量密度，測(cè)試時(shí)，樣品的電荷是放回到高壓源上，而不是釋放到負(fù)載上，通過(guò)電滯回線測(cè)得的儲(chǔ)能密度一般會(huì)大于樣品實(shí)際釋放的能量密度，無(wú)法正確評(píng)估電介質(zhì)材料的正常放電性能。DCD-100儲(chǔ)能型電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)專為研究?jī)?chǔ)能電介質(zhì)材料快速充放電性能而設(shè)計(jì)，適用陶瓷、薄膜材料，可進(jìn)行變溫下的欠、過(guò)阻尼充放電測(cè)試。是目前研究?jī)?chǔ)能材料的重要科研設(shè)備，是目前高等院校和