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目前常規(guī)的方法是通過電滯回線計算高壓下電介質(zhì)的能量密度，測試時，樣品的電荷是放回到高壓源上，而不是釋放到負(fù)載上，通過電滯回線測得的儲能密度一般會大于樣品實際釋放的能量密度，無法正確評估電介質(zhì)材料的正常放電性能。DCD-100儲能型電介質(zhì)充放電測試系統(tǒng)專為研究儲能電介質(zhì)材料快速充放電性能而設(shè)計，適用陶瓷、薄膜材料，可進(jìn)行變溫下的欠、過阻尼充放電測試。是目前研究儲能材料的重要科研設(shè)備，是目前高等院校和
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