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高溫介電溫譜測試儀主要應用于高溫下材料的介電性能測試與分析，包括介電常數(shù)、介電損耗、電容等參數(shù)，同時測試出測試材料的其他阻抗參數(shù)，廣泛應用于陶瓷材料、半導體器件及功能薄膜材料等研究 。
主要功能： 材料介電常數(shù)測試儀 半導體材料的介電常數(shù)、導電率和C-V特性液晶材料:液晶單元的介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性 性能特點: 溫度：RT-1000℃ 測試頻率: 20Hz- 21MHz, 分辨率:最高0.1mHz 基本精度: 0.05% 測試速度:最快5. 6ms/次 測試原理:自動平衡電橋 高穩(wěn)定性和一致性:高達15個測試量程配置 高分辨: 7英寸, 800X600
隨著固體粉末在化工、航天、醫(yī)藥、食品、塑料制品等行業(yè)越來越廣泛的應用，必然需要更多、更精確的以工藝過程控制、產品混合均勻度測試、物料含量檢測等為目的的儀器，以期優(yōu)化產品的過程控制、提高產品質量，F(xiàn)WJD-600型粉末高溫介電溫譜儀是一款新型的高溫介電溫譜測試系統(tǒng)，
GWJDN-800型四通道高低溫介電測量系統(tǒng)應用于高溫環(huán)境下材料、器件的導電、介電特性測量與分析，通過配置不同的測試設備，完成不同參數(shù)的測試。是一代高溫介電測試系統(tǒng)，性能*，*科研級別的精密測試裝置，是國家科研院所和高等學府的設備。
HTRC-600型高溫導電材料電阻率測試系統(tǒng)是一款專門用于測量材料電阻，電導率的設備，采用由四端測量方法測試電阻率系統(tǒng)與高溫試驗箱為一體的的高溫測試系統(tǒng)，滿足半導體及導體材料因溫度變化對電阻值變化的 測量要求，通以在高溫 、真空、氣氛的條件下測量導電材料電阻和電阻率，可以分析被測樣的電阻和電阻率隨溫度、 時間變化的曲 線． 目前主要針對圓片、方塊、長條等樣品進行測試，可以廣泛用于碳系導電
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